一种超导芯片极低温测试系统

本发明公开了一种超导芯片极低温测试系统，属于超导芯片测试技术领域，包括：箱壳，箱壳内固定安装有氦制冷机，箱壳的上表面两端分别固定安装有第一直线模组和第二直线模组，第一直线模组和第二直线模组的动块上表面分别固定连接有第一L形架和第二L形架，第一L形架和第二L形架的下表面则分别固定连接有吸取收集机构和填装密封机构，填装密封机构内磊放有超导芯片，并能够将超导芯片填装于填装口内。本申请通过吸取收集机构和填装密封机构的设计，使其对超导芯片的检测和存放的整个流程无需人工干预，既提升多组芯片测试的连贯性，又减少人为误差，适配规模化、标准化的超导芯片极低温测试需求。