一种纳米孔测序芯片模拟前端电路及纳米孔阵列读出电路

本发明公开了一种纳米孔测序芯片模拟前端电路及纳米孔阵列读出电路，该纳米孔测序芯片模拟前端电路，包括：电容反馈跨阻放大器CTIA、低通滤波器LPF和CDS双采样电路。该纳米孔测序芯片模拟前端电路利用由单位负反馈跨导放大器构成的低通滤波器实现滤波的功能，并结合了CDS双采样电路，可以取代传统的RC低通滤波器，大幅优化了电路的版图面积，提升了阵列密度；通过相应的时序控制使CDS双采样电路通过双采样将所述滤波信号和第二放大信号之差作为校准后的信号，实现了对低频噪声的抑制和对失调的消除，具有低噪声、面积效率高的特点。