基于逆问题求解算法的光学散射法及其对批量样品的混合量测方法

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正文
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基于逆问题求解算法的光学散射法及其对批量样品的混合量测方法
申请号:CN202510973789
申请日期:2025-07-15
公开号:CN120869934A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光学量测技术领域,特指一种基于逆问题求解算法的光学散射法及其对批量样品的混合量测方法,包括如下步骤:对样品进行光测量得到实测光学信号;获取样品的先验结构信息;构建初始模型;利用严格耦合波分析对初始模型进行解析以生成仿真光学信号;判断生成的仿真光学信号与实测光学信号的差异是否满足设定要求;若是,则输出量测结果;若否,则对初始模型中的各参数进行梯度计算,利用自动微分算法,获得所有参数的梯度,进而利用参数的梯度对初始模型进行优化以得到优化后的模型,重复执行利用严格耦合波分析的步骤,直至满足设定要求为止。本发明能够提供更加细节的轮廓优化,还可以提高计算效率。
技术关键词
求解算法 透射电子显微镜 量测方法 平面波 光学量测技术 信号 薄板样条插值 误差函数 参数 批量 边缘检测算法 透射结构 界面 电场 轮廓信息 样本 数学 关系
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