三坐标测量机复测量系统和控制方法

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三坐标测量机复测量系统和控制方法
申请号:CN202510976762
申请日期:2025-07-16
公开号:CN120489032B
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种三坐标测量机复测量系统和控制方法,属于三坐标测量技术领域,包括支架、工作台、龙门架、探测系统、第一电动伸缩杆、第二电动伸缩杆、第三电动伸缩杆、滑行轨、调节柱及水平仪,还包括主控模块以及控制逻辑模块,控制逻辑模块通过电连接控制三坐标测量机执行测量任务,通过在龙门架、连接架、滑行卡块和滑行轨表面设置陶瓷外壳,利用陶瓷材料高刚性、低膨胀系数的特性,避免传统金属结构因温度变化或长期摩擦产生的形变。减少接触面积的同时降低摩擦损耗,确保龙门架沿X轴平移时的轨迹精度。陶瓷外壳的刚性支撑使设备无需依赖严格恒温环境,从机械结构层面消除热变形误差源,提升复杂环境下的测量稳定性。
技术关键词
三坐标测量机 双闭环控制算法 龙门架 逻辑模块 探测头 探测系统 工件表面轮廓 位移控制单元 时间序列模型 伺服电机驱动 水平仪 陶瓷外壳 加权最小二乘法 磁栅编码器 监测工作台 应变片传感器 热变形误差 遗传算法优化
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