基于大数据分析的芯片测试优化系统和方法

本申请涉及芯片测试领域，公开了一种基于大数据分析的芯片测试优化系统和方法，包括：集成测试模块，用于根据多种预设场景生成可变测试向量，并根据多个可变测试向量对芯片进行测试，得到第一测试结果，其中，第一测试结果包括功耗测试结果和性能测试结果；数据分析模块，与集成测试模块连接，用于根据第一测试结果建立关系模型，并通过关系模型输出芯片的第一能效曲线，其中，关系模型至少用于指示功耗测试结果和性能测试结果之间的关联关系；优化反馈模块，与数据分析模块连接，用于根据第一能效曲线标记出芯片中的高功耗低性能模块，并根据高功耗低性能模块输出优化反馈结果，其中，优化反馈结果用于指示所述芯片的电路结构的优化方案。