一种基于负载牵引测试的GaN器件非线性动态去嵌入方法

本发明提供了一种基于负载牵引测试的GaN器件非线性动态去嵌入方法，其可以简单、快速、准确的动态提取器件的寄生网络，仅从不同频率和输入功率水平的非线性负载牵引测量数据中获取器件本征平面上的实际波形，而不需要预先已知的器件非线性模型，克服了提取去嵌入网络所需测量数据量巨大、耗时和去嵌入不准确的问题。