基于AI大模型及智能算法的射频集成电路调优设备及方法

本发明涉及射频集成电路测试技术领域，尤其涉及一种基于AI大模型及智能算法的射频集成电路调优设备及方法，包括以下步骤：组装测试芯片，采集射频性能数据，将组装芯片装配于EVB测试板，通过射频测试仪及探针台收集芯片的量化性能数据；基于通用大模型，对预训练AI大模型进行领域微调并构建射频IC分析智能体；多目标优化分析，将性能数据输入微调后的大模型，满足最优解条件则生成分析图表，否则基于模型输出的优化方向返回S1调整组装元件并重复测试。本发明通过多目标优化与闭环反馈，提升性能参数；通过多源数据融合分析，管理测试数据全生命周期；通过可编程平台与API接口，实现硬件灵活适配与资源复用，显著提高效率、精度与系统通用性。