一种高频元器件性能测试设备及其校准系统

本发明公开了一种高频元器件性能测试设备及其校准系统，涉及高频元器件性能测试领域，包括测试主箱，所述测试主箱的底部均匀设置有移动轮，所述测试主箱的正面设置有正门，用于放入高频元器件，所述测试主箱内设置有信号源模块和信号处理模块，所述测试主箱的侧面还设置有侧门，还包括：设置在信号源模块和信号处理模块之间的检测单元、设置在检测单元下方的放置单元以及抵消外界干扰信号的反向抵消单元，反向抵消单元会先消除掉外界的干扰信号，之后需要先将高频元器件放入到放置单元中，信号源模块会控制检测单元对高频元器件进行检测，并将检测数据传输到信号处理模块。