多通道数据采集方法、装置及DDIC测试设备

本申请适用于半导体测试技术领域，提供了一种多通道数据采集方法、装置及DDIC测试设备，所述多通道数据采集方法包括：控制待测DDIC芯片根据接收到的测试图案输出对应的灰阶电压信号；将所述灰阶电压信号输出至多个目标信号采集通道；通过部署在目标信号采集板卡上的温度传感器，调节所述多个目标信号采集通道的温度值；在所述多个目标信号采集通道的温度值位于预设温度范围内时，获取所述多个目标信号采集通道输出的目标采样数据。上述方案通过对每个信号采集通道执行温度调节控制，并在温度稳定后再进行数据采集操作，确保在多通道环境下各通道的热稳定性与测量条件一致，从而提高了DDIC芯片的数据采集一致性。