一种基于反演算法的片上校准件寄生参数确定及溯源方法

本发明公开了一种基于反演算法的片上校准件寄生参数确定及溯源方法，包括通过TRL校准确定八个误差项，所述TRL校准采用直通、反射和传输线三个校准标准件；根据信号流图得到TRL校准与SOLT校准中各个误差项的关系，根据12项误差修正模型算法，反演得到提取校准片反射系数真值的表达式，将测试获得的散射参数代入TRL校准的误差项解析解中，求出TRL校准误差项，得到提取校准片开路、短路及负载件的反射系数真值；本发明简化了校准件寄生参数的提取流程，减少了校准件寄生参数提取过程中引入的误差来源，提取出的校准件寄生参数具有良好的效果。