用于测试寄存器的方法和存储设备

本发明公开的用于测试寄存器的方法和存储设备。该方法包括：将预置文件中所有寄存器的标准数据加载到目标存储空间；确定待测寄存器的目标标准数据在所述目标存储空间中的存储位置；基于所述存储位置获取所述目标标准数据中的标准字段数据；根据所述待测寄存器的类型读取所述待测寄存器与所述标准字段数据相对应的待测初始数值；在根据所述标准字段数据校验所述待测初始数值得到校验结果之后，返回执行基于所述存储位置获取所述目标标准数据中的标准字段数据，直至所述目标标准数据完成校验测试；根据所述校验结果生成所述待测寄存器的测试结果。本发明能够有效提高寄存器校验的效率和灵活性。