2.5D中介层露铜工艺和封装结构

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2.5D中介层露铜工艺和封装结构
申请号:CN202511014854
申请日期:2025-07-23
公开号:CN120527240B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种2.5D中介层露铜工艺和封装结构。该2.5D中介层露铜工艺包括提供具有导电柱的中介层;中介层包括相对设置的第一表面和第二表面;第一表面和第二表面边缘分别设有第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽的深度为H1,第二凹槽的深度为H2,第一凹槽和第二凹槽的槽底之间的间距为H3。第二凹槽的槽底和第二端面齐平。研磨第二表面,以露出第二端面;研磨厚度为H2。从第二表面减薄中介层,以使导电柱的凸出高度为H3。之后再形成与导电柱电连接的电连部。这样,可以方便管控研磨厚度以及减薄厚度,确保所有导电柱的凸出高度一致,有利于提升后续布线精度,从而提高封装效率和封装质量。
技术关键词
封装结构 中介层 阻挡层 芯片 凹槽 导电柱 布线 焊盘 贴保护胶 凸块 蚀刻 金属环 衬底 元器件 基板 间距 卡环 静电
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