摘要
本申请提供的一种2.5D中介层露铜工艺和封装结构。该2.5D中介层露铜工艺包括提供具有导电柱的中介层;中介层包括相对设置的第一表面和第二表面;第一表面和第二表面边缘分别设有第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽的深度为H1,第二凹槽的深度为H2,第一凹槽和第二凹槽的槽底之间的间距为H3。第二凹槽的槽底和第二端面齐平。研磨第二表面,以露出第二端面;研磨厚度为H2。从第二表面减薄中介层,以使导电柱的凸出高度为H3。之后再形成与导电柱电连接的电连部。这样,可以方便管控研磨厚度以及减薄厚度,确保所有导电柱的凸出高度一致,有利于提升后续布线精度,从而提高封装效率和封装质量。
技术关键词
封装结构
中介层
阻挡层
芯片
凹槽
导电柱
布线
焊盘
贴保护胶
凸块
蚀刻
金属环
衬底
元器件
基板
间距
卡环
静电
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