一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法

本发明公开了一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法，将芯片版图数据转换为二值图像数据，输入到GPU驱动的光刻仿真器中得到光刻后的打印图像，与原二值图像进行度量，得到潜在热点的位置信息；根据原二值图像及光刻后打印图像得到的先验光刻信息，输入训练好的基于transformer的端到端热点检测器，输出热点的位置信息并框选，对版图中的热点进行定位。本发明方法由GPU加速的光刻仿真器驱动，消除了对数据集相关超参数的需求，显著提高了灵活性，减少了计算资源的消耗，同时光刻仿真器的先验知识被集成到框架中，指导热点检测模型聚焦于潜在的热点区域，显著提高了解释性和泛化能力。