一种测试样品及其制备方法、电性测试方法

本发明提供一种测试样品及其制备方法、电性测试方法，测试样品的制备方法包括：提供一待测试样品和载体片，对待测样品进行去层处理至目标器件层，载体片具有光滑的承载面；在承载面上涂抹银浆，以获得银浆层，银浆层包括主体区域和通道区域，通道区域具有连接端，连接端连接所述主体区域；将所述待测试样品固定在所述主体区域，以解决了导电性能差与接触电阻问题、高温样品漂移、高温污染严重、裸芯片样品制备困难和低温粘性失效等问题。