面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统

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面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统
申请号:CN202511037329
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120543548B
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本申请涉及图像增强技术领域,具体涉及面向铜箔生产的表面工艺缺陷检测方法及系统,该方法包括:采集生产过程中的铜箔图像;获取铜箔图像中的各图像块;对铜箔图像进行边缘检测,得到其中的各边缘线;确定各图像块的纹理特征系数,构建各图像块的光照对比系数,修正高斯滤波器中的标准差参数,利用修正参数后的高斯滤波器与局部Retinex算法,对各图像块进行图像增强;通过图像增强后的铜箔图像,对铜箔进行表面缺陷检测。从而提高了铜箔表面工艺缺陷检测的精度。
技术关键词
缺陷检测方法 图像块 高斯滤波器 纹理特征 Retinex算法 像素点 光照 表面缺陷检测 图像增强技术 边缘检测 缺陷检测系统 度量 直线 参数 铜箔表面 处理器 存储器
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