一种存储芯片的测试系统及测试方法

本发明提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，测试系统包括：电源模块，用于对待测芯片的传输引脚供电；切换开关，用于将待测芯片的各个传输引脚在电源模块和接地端之间进行切换，以实现高压漏电检测和低压漏电检测；电流检测模块，用于检测待测芯片的各个传输引脚在高压漏电检测和低压漏电检测时所对应的检测电流；主机，用于根据检测电流，判断各个传输引脚是否存在漏电故障。本发明在存储芯片封装后，可通过漏电流检测有效的筛选出存在缺陷的存储芯片。