一种预防半导体封装中晶圆MAP取错的方法

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正文
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一种预防半导体封装中晶圆MAP取错的方法
申请号:CN202511046692
申请日期:2025-07-29
公开号:CN120542375B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种预防半导体封装中晶圆MAP取错的方法,涉及半导体器件封装技术领域,包括,S1.指定人员将晶圆的MAP源文件中的方向旋转至统一方向,并将旋转后的MAP图上传至MAP服务器,技术人员从MAP服务器下载已转换方向的MAP图,避免人工确认源文件中的MAP图方向。该预防半导体封装中晶圆MAP取错的方法,通过创新性的MAP图方向调整、喷墨打标与参考芯片标记的结合,确保了每一颗芯片在封装过程中的准确定位。通过统一MAP图的缺口方向、使用星形标识并进行精确的芯片校准,极大地减少了芯片取错的风险。该方法有效避免了好芯片遗漏和坏芯片粘取的问题,从而显著提高了封装良率。
技术关键词
半导体封装 打标设备 半导体器件封装技术 标识 喷墨 校准 服务器 芯片标记 星形 微米级别 封装工艺 矩形 颜色 良率 错位 风险 精度 关系
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