光纤放大器制造工艺的缺陷检测方法及系统

本发明涉及光纤放大器制造技术领域，具体涉及光纤放大器制造工艺的缺陷检测方法及系统，该系统与方法通过构建多物理场耦合工艺模型，突破传统单一维度缺陷分析的局限，实现了跨尺度缺陷的精准量化，引入多物理场耦合风险指数与未知缺陷概率模型，前者通过热阻、应力、折射率的耦合权重解析缺陷萌生机制，后者借助GAN网络突破历史数据束缚，预演新型缺陷模式，保证光纤放大器制造工艺中未知缺陷的检出率，同时，利用NSGA‑III算法生成帕累托最优解集，为每类工艺参数组合预定义检测策略，并结合最近邻算法实现检测资源的动态精准分配，通过数字孪生与优化算法的闭环迭代，持续吸收产线数据优化模型与策略。