衍射光波导的成像质量评估方法、装置、存储介质和电子设备

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衍射光波导的成像质量评估方法、装置、存储介质和电子设备
申请号:CN202511050631
申请日期:2025-07-29
公开号:CN120931601A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种衍射光波导的成像质量评估方法、装置、存储介质和电子设备,该方法,包括:基于测试图像对应的基准标记和所述基准标记对应的缺陷类型,在所述测试图像中确定测试区域;其中,所述测试图像由待测衍射光波导作为光学通道传输;基于所述测试区域中像素对应的灰度值,确定所述测试区域对应的灰度分布曲线;基于所述灰度分布曲线和与所述缺陷类型对应的缺陷检测算法,对所述测试图像中存在的所述缺陷类型进行识别和量化;其中,所述缺陷类型包括:光晕、拖尾和拖影中的至少一种。执行本申请技术方案,可以识别衍射光波导的成像缺陷并实现了对成像缺陷的精准量化。
技术关键词
缺陷检测算法 像素 图像 光波导 基准 曲线 标记 成像 索引 电子设备 处理器 评估装置 强度 矩形 可读存储介质 存储器 通道 模块 关系 尺寸
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