提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法

本申请涉及ATE测试技术领域，公开了一种提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法，本发明通过自动化MIPI参数配置、测试模式输出、反馈模式处理和测试迭代等关键步骤，显著提升了DDIC芯片MIPI测试项调试的效率，为半导体行业的质量控制和产品可靠性提供了有力支持；通过内置于ATE设备的Mipi Pattern转换工具，用户MIPI配置参数可以自动转换为ATE Pattern，减少了手动配置的复杂性和出错率，提高了测试的准确性和效率；ATE设备加载ATE Pattern后，能够直接以MIPI测试Pattern输出至DDIC芯片，简化了测试模式的输出流程，加快了测试速度；DDIC芯片输出的MIPI反馈Pattern能够通过内置于ATE设备的LA工具快速接收并解析，提高了反馈模式处理的效率，缩短了调试周期。