多核异构芯片的性能测试与验证方法、系统、装置及介质

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多核异构芯片的性能测试与验证方法、系统、装置及介质
申请号:CN202510350218
申请日期:2025-03-24
公开号:CN120294534A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了多核异构芯片的性能测试与验证方法、系统、装置及介质,方法包括:根据目标应用场景配置测试参数集,测试参数集包括处理器核类型识别参数、通信拓扑权重参数以及负载均衡阈值参数;生成覆盖异构计算核心协同工作模式的测试用例;通过可重构监控子模块采集测试时的特征数据,特征数据包括核心间通信延迟信息、共享缓存命中率信息以及功耗分布热力信息;通过多维度评价模型对特征数据进行量化分析,得到性能偏离度指标和架构优化建议参数。本发明通过优化多核异构架构下的芯片性能验证流程,有效提高了验证精度,可广泛应用于芯片设计技术领域。
技术关键词
验证方法 缓存命中率 异构 虚拟测试环境 参数 探针单元 处理器 子模块 核心 芯片设计技术 函数调用关系 能效 数据 功耗 重构 分析单元 系统级 指标 加速器
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