一种基于可形变Top-k稀疏注意力的上采样方法

本发明提供一种基于可形变Top‑k稀疏注意力的上采样方法，涉及计算机视觉与深度学习技术领域，该方法包括获取输入图像，提取输入图像的特征图；对特征图执行自适应形变邻域预测，得到形变采样坐标；基于形变采样坐标执行Top‑k稀疏注意力计算，生成上采样特征图。本发明计算冗余低、效率高，感知范围可自适应调整、场景适应性强，且特征聚焦精准、语义对齐充分，综合性能优异。