存储器芯片的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

本申请公开了一种存储器芯片的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及电子芯片测试领域。每次测试数据写入仅写入目标物理块的部分物理页，测试过程考虑了存储器芯片的物理块已经写入的物理页数据保持对未写入数据的物理页的影响，且符合存储器芯片的实际使用情景，存储器实际使用情景也是每次写入只写入存储器芯片的部分物理页。然后基于各个烘烤后误码率，确定目标物理块的数据保持能力。目标物理块的数据保持能力能够表征存储器芯片的数据保持能力。本申请测试过程考虑了实际使用过程中，存储器芯片的物理块已经写入的物理页数据保持对未写入数据的物理页的影响，能够提高测试准确性。