一种基于图像分析技术的超细微成像式表面粗糙度检测方法及系统

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一种基于图像分析技术的超细微成像式表面粗糙度检测方法及系统
申请号:CN202511071999
申请日期:2025-08-01
公开号:CN120580227B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于图像分析技术的超细微成像式表面粗糙度检测方法及系统,属于表面粗糙度检测领域,检测方法包括,使用超细微成像系统伸入到待检测的腔体内部,并靠近腔内表面,进行第一次检测,采集腔体内部表面的粗糙度图像;对采集到的粗糙度图像进行重采样,然后将重采样后粗糙度图像的空域信号转换为频谱域信号;根据被测表面的纹理特征周期变化,控制超细微成像系统进行二次检测,进行安全距离定位检测;使用重采样扩展傅立叶变换对粗糙度纹理图像进行纹理特征预处理,将预处理后的纹理特征图像输入预先训练好的表面粗糙度神经网络模型,从而实现对待测面粗糙度的检测。本发明实现了对于狭小孔洞腔体内部的内表面粗糙度的精确检测。
技术关键词
特征参量 图像分析技术 频谱分布图 成像 二维傅立叶变换 数据处理单元 灰度共生矩阵 神经网络模型训练 图像纹理特征 定子单元 表面粗糙度检测 腔体
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