一种AOI工站显示屏缺陷检测定位方法及系统

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一种AOI工站显示屏缺陷检测定位方法及系统
申请号:CN202511078097
申请日期:2025-08-01
公开号:CN120976139A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种AOI工站显示屏缺陷检测定位方法及系统,涉及缺陷检测技术领域,该方法包括:利用频域相似性匹配技术将显示屏图像与标准模版图像进行比对,并基于比对结果从显示屏图像中划分显示屏缺陷区域;将缺陷特征输入至预先构建的缺陷延展预测模型中,通过缺陷延展预测模型预测缺陷特征在未来时间段的演变趋势;基于缺陷特征在未来时间段的演变趋势判定缺陷修复难度,并将易修复缺陷特征的坐标转换为物理坐标进行定位。本发明利用时序建模与优化算法精准预测气泡在未来时间段内的演变趋势,实现对气泡大小、传播路径及可能引发的贴合失败等动态行为的提前预判,从而为气泡缺陷的智能决策与自动修复提供时效性与针对性的依据。
技术关键词
显示屏缺陷 检测定位方法 截面轮廓 纹理 玻璃基板 萤火虫算法 偏光片 时间段 滤波器 图像 多尺度 指标 拉丁超立方采样 检测定位系统 特征选择技术 模拟模型 矩阵 空间坐标信息
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