一种芯片供电网络的电磁谐振风险预测方法、设备及介质

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一种芯片供电网络的电磁谐振风险预测方法、设备及介质
申请号:CN202511083447
申请日期:2025-08-04
公开号:CN120995000A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种芯片供电网络的电磁谐振风险预测方法、设备及介质,涉及芯片供电网络技术领域,先获取目标芯片供电网络历史运行数据,包括网格单元及其电磁参数,以及影响电磁参数变化的第一影响因子;同时获取各网格单元对应区域的谐振频率和影响谐振频率变化的第二影响因子,基于运行数据、第一影响因子构建目标模型,结合量子比特映射规则预测谐振敏感区域;利用谐振频率、第二影响因子及物理约束神经网络模型预测谐振强度,通过同步迭代计算谐振风险值,直至其大于预设目标值,输出预测结果,该方法融合多维度影响因子与迭代预测机制,实现局部与全局谐振的同步监测,提升风险预测准确性。
技术关键词
谐振 网格 风险预测方法 因子 芯片 神经网络模型 电磁 供电网络技术 筛选算法 强度 频率 历史运行数据 参数 邻域 处理器 物理 可读存储介质
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