一种光干涉位移测量中干涉信号叠加效应的模型分析方法

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正文
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一种光干涉位移测量中干涉信号叠加效应的模型分析方法
申请号:CN202511086715
申请日期:2025-08-05
公开号:CN120991719A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种光干涉位移测量中干涉信号叠加效应的模型分析方法,包括建立干涉叠加模型,所述模型用于仿真一次反射光与二次反射光分别与参考光干涉后的叠加效应;所述参考光为经光纤端面反射的光束;获取模型关键参数,基于所述模型关键参数,通过模型计算一次反射光与参考光的干涉信号、二次反射光与参考光的干涉信号,以及两者的叠加信号;利用所述叠加信号的仿真结果,分析干涉信号的非线性效应,用于优化光纤法布里‑珀罗干涉仪的位移测量精度;本发明通过建立反射光干涉叠加模型,构建多次反射干涉的非线性效应,优化了信号处理方法,从而提高位移测量的精度、稳定性和适用性。
技术关键词
反射光 反射回光纤 模型分析方法 反射率 InGaAs探测器 珀罗干涉仪 分布反馈激光器 涂覆层 效应 信号处理方法 非线性 光束 准直透镜 单模光纤 参数 光斑 采集卡 精度
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