一种光学相控阵芯片的天线相位校正方法及系统

本发明属于光学传感技术领域，具体公开了一种光学相控阵芯片的天线相位校正方法及系统，所述方法包括：测量光学相控阵芯片中所有移相器的电压与相位变化关系，确定移相器的相移功耗；根据移相器的相移功耗，对所有天线的移相器施加多次随机电压调节光学相控阵芯片中所有天线的相位，并记录每次施加随机电压后0度位置的远场强度变化数据；根据每次施加随机电压后0度位置的远场强度变化数据，计算得到相位变化后的远场功率，进而构建关于远场功率的方程组；求解关于远场功率的方程组得到天线的相对初始相位，进而完成天线相位校正。本发明解决了现有相位误差校正方法效率较低，并且算法容易陷入局部极值的问题。