故障注入测试方法、装置、计算机设备及存储介质

本申请实施例中提供了一种故障注入测试方法、故障注入测试装置、计算机设备和计算机存储介质，涉及信息安全技术领域。该方法包括：预先将待测试芯片中的多个寄存器配置为相同数目的比特位；针对多个寄存器中处于同一位置的每个目标比特位，基于全自检比较器TSC comparator对每个目标比特位进行故障注入操作，得到故障测试结果；其中，故障测试结果的输出值为第一预设值或第二预设值；若故障测试结果的输出值为第一预设值，则确定多个寄存器中至少一个目标比特位存在功能故障。本申请降低了故障注入测试的工作量和时间消耗，进而提高了注错操作效率。