基于表面状态图像提取的IC载板检测方法

本发明涉及电子元件检测技术领域，具体为基于表面状态图像提取的IC载板检测方法，包括以下步骤：获取灰度图像，分析结构参数，提取梯度特征，检测边界扰动，整合图像，计算异常评分，识别缺陷位置区域，提取特征，输出识别结果。本发明中，通过分析灰度图像中焊盘结构参数，计算边缘线段、中心坐标与间距，构建二维坐标系，使区域定位基准更具几何一致性，坐标映射结合梯度方向变化频次与连续聚集点，提升边界扰动识别精度，基于扰动区域执行图像划分，有效规避非功能区域混杂，区域灰度统计后引入聚类与概率模型，构建偏离评分机制，精确识别灰度特征异常，提升小幅度、低对比度缺陷的判别能力，增强特征检测的选择性与目标聚焦性。