选择器单元、环形振荡器及测试结构

本申请公开了一种用于标准单元动态切换的选择器单元、环形振荡器及测试结构。其中选择器单元通过并联不同阈值电压、驱动能力及逻辑功能的标准单元，并配合第一开关控制电路，实现差异化标准单元的灵活切换，突破传统测试电路的静态架构限制；环形振荡器通过将选择器单元嵌入标准单元链的闭合振荡回路中，通过动态配置形成多种单元组合的时序路径，有效模拟实际电路中混合单元间的延时叠加效应；测试结构基于环形振荡器的可配置特性，结合第一控制信号复用模块的管脚共享机制，在单芯片内实现多种单元组合的并行测试，消除多芯片分测需求，从而在硬件资源约束下实现高效率、高覆盖的标准单元延时检测体系，为工艺仿真模型偏差分析提供了验证基础。