一种基于分布式架构的高端存储器芯片异步测试系统

本发明公开了一种基于分布式架构的高端存储器芯片异步测试系统，涉及芯片测试技术领域，包括，状态建模模块，初始化主控端并接入测试端，构建存储器芯片测试任务池，结合历史测试负载及历史故障信息，分析测试端状态，生成优化调度策略；调度模块，基于优化调度策略，采用智能调度算法对存储器芯片测试任务池进行任务划分与异步调度，生成异步数据流队列；下发模块，测试端以异步方式接收异步数据流队列进行协议解包与任务映射，得到存储器芯片功能测试任务并进行下发；本发明通过异步排序调度任务提升测试吞吐率与资源利用率、降低任务调度延迟并平衡各测试端负载，同时增强了水平扩展性与容错能力。