一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法

本发明涉及汽车电子安全技术领域，本发明公开了一种缩小最大暴露面的MCU存储区校验方法，其将存储区起始地址A开始的区域逻辑划分为N个大小为P的连续分区，根据校验速度V、时间T及分区数N，动态计算各分区抽样区域大小L，确保L≤P，然后利用真随机数生成器间接产生取值范围为[0,P‑L]的分区抽样地址随机偏移量K，计算每个分区的抽样起始地址和抽样结束地址，拼接所有分区的随机偏移抽样数据，生成总校验码C；最后将随机偏移量K和校验码C存入安全区作为基准，在校验时复用K重新计算校验码C'，与安全区存储的C比对；本方法兼顾效率与安全性，适用于资源受限的嵌入式场景。