芯片评测报告的生成方法及装置、存储介质、电子设备

本公开是关于一种芯片评测报告的生成方法及装置、存储介质、电子设备，涉及人工智能技术领域，该方法包括：确定待测试芯片以及与待测试芯片关联的待测试性能，并获取与待测试芯片对应的原始芯片性能数据以及与待测试性能关联的历史测试报告示例；基于预设的报告大纲生成模型根据待测试性能以及历史测试报告示例，生成与待测试芯片对应的测试报告大纲；基于内容生成大模型根据原始芯片性能数据生成性能测试结果，并将性能测试结果映射至测试报告大纲中得到原始芯片评测报告；基于预设的报告评估模型对原始芯片评测报告进行评估得到报告评估结果，并根据报告评估结果以及原始芯片评测报告确定目标芯片评测报告。本公开提高了评测报告的生成效率。