激光器阵列检测方法和设备

本申请公开了一种激光器阵列检测方法和设备，涉及激光技术领域。本申请的激光器阵列检测方法将图像检测和功率检测结合在一起，首先通过筛选出暗点，来确定异常风险较高的部分发光芯片，再针对暗点进行针对性的功率检测，这样可以提高检测效率；而发光芯片是否异常是通过功率检测判断，能够保证检测准确度。进一步的，通过判断暗点的分布状态是分散型分布还是集中型分布，可以一定程度上确定暗点所处位置的差异化。通过确定暗点，并判断暗点的分布状态，在不同的分布状态下采用不同的检测策略，使得检测效率较高，而且检测准确性也较高。本申请实施例提供的激光器阵列检测设备可以实现上述的检测方法。