一种芯片测试中按需清针的方法和系统

本发明公开了一种芯片测试中按需清针的方法和系统，S101：实时采集不良品回收率值、敏感Bin、接触阻抗值。S102：判断是否满足清针触发条件。S103：如果满足清针触发条件，执行清针作业；如果未满足返回步骤S101。实现了理想的按需适度清针。在工厂实际验证中，能降低清针频率50%，探针寿命提升40%以上，带来良好的技术及经济效益。