探针卡的存储芯片的测试方法、检测电路及系统

本申请公开了一种探针卡的存储芯片的测试方法、检测电路及系统，涉及半导体测试技术领域，公开了检测电路，包括：控制模块和以太网模块，控制模块包括联合测试行动组接口，联合测试行动组接口与以太网模块连接，控制模块的测试控制端用于与存储芯片电连接：以太网模块与上位机通信，用于接收上位机发送的以太网协议格式的第一测试烧录程序，并将第一测试烧录程序转换成符合联合测试协议格式的第二测试烧录程序；控制模块用于通过联合测试行动组接口接收第二测试烧录程序，并基于第二测试烧录程序对存储芯片进行读写功能测试，能够实现对探针卡上的存储芯片的功能性检测，以避免因存储芯片故障而导致探针卡的性能下降。