一种基于图像处理的芯片缺陷检测方法及系统

本发明提供了一种基于图像处理的芯片缺陷检测方法及系统，涉及芯片缺陷检测技术领域，方法包括：获取芯片的原始表面图像；对原始表面图像进行灰度处理，得到灰度表面图像；结合非对称拉普拉斯混合模型和连通域标记算法，提取灰度表面图像中芯片的多个引脚区域；判断引脚区域的数量是否与芯片的引脚数量相同；若是，进入下一步；否则，确定芯片存在引脚数量不匹配缺陷；通过归一化互相关算法，提取灰度表面图像中芯片的主体区域；对各个引脚区域与主体区域进行整合，得到芯片的待检测区域图像；构建基于深度学习算法的芯片缺陷检测模型；将待检测区域图像输入至芯片缺陷检测模型，输出芯片的缺陷检测结果。