硅电容可靠性测试系统

本申请公开硅电容可靠性测试系统，涉及硅电容检测领域。控制模块接收用户外部输入指令，根据指令控制环境模拟模块和参数测试模块进入对应工作状态；环境模拟模块接收控制模块的控制指令，模拟产生对应的硅电容测试环境；参数测试模块接入有待测硅电容，基于接收控制模块的测试指令，对待测硅电容进行电参数测试和输出测试数据；数据处理分析模块接收和存储测试数据，对测试数据进行统计分析，计算各项参数的统计量，根据设定时间范围内的统计量进行失效分析，确定电容的失效模式。通过集成环境模拟、多参数测试和智能数据分析模块，实现极端环境模拟、高精度参数测量和失效模式识别，具有全面模拟测试环境、提高测试精度和可靠性评估能力的优点。