一种紧缩场暗室内杂散信号成像诊断系统及方法

本发明公开了一种紧缩场暗室内杂散信号成像诊断系统及方法，属于微波测量技术领域。所述系统包括扫描架、收发馈源天线、抛物反射面、馈源支架、矢量网络分析仪、控制计算机及紧缩场暗室。扫描架架设在馈源支架前方，收发馈源天线安装于扫描架上，通过水平或竖直方向扫描采集测试数据。控制计算机控制扫描架的扫描参数及矢量网络分析仪的触发，并存储和处理数据。通过投影算法对测试数据进行成像处理，生成水平切面和竖直切面的场地成像结果，结合暗室布局分析强散射点分布，快速定位杂散信号来源。本发明实现了紧缩场暗室的全场地成像，显著提高了杂散信号诊断的效率和准确性，适用于各类紧缩场测试系统的杂散源定位。