一种芯片测试机及芯片测试设备

本发明提供了一种芯片测试机及芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域。本发明中输送盘具有第一区域和第二区域，且用于承载被测芯片，测试基座设置成受控地朝向探针座移动至测试位，并使得测试芯片与探针卡接触。输送机构的中转通道的一端布置于探测座与芯片上下料机之间，中转通道的另一端与吸附组件对接，输送盘能够在中转通道上移动。吸附组件用于将测试基座上完成测试的被测芯片搬运至第二区域，并将第一区域上待测试的被测芯片搬运至测试基座。上述技术方案中被测芯片的上料和下料均采用同一个输送盘，输送盘输送一次就可以完成芯片测试机的上料和下料，可以减少输送次数，提高芯片的测试效率。