一种推进式芯片测试设备

本发明涉及一种推进式芯片测试设备，包括主体、传动装置、推进装置、测试装置、放置装置和顶出装置；推进装置包括转动杆、移动块和滑杆；顶出装置设有滚动组和顶针；测试装置设有第一区域和第二区域；第一区域设有放置孔；第二区域设有测试针。本发明设有多个顶出装置和推进装置，在芯片测试完成后，推进装置设有的移动块能够在转动杆的带动下沿着滑杆进行移动，使得移动块与顶出装置设有的滚动组接触并进行挤压，并同时将粘在测试针处的芯片顶出，同时，测试装置和放置装置设有多组，在驱动放置装置上移后，能够使芯片分别与测试装置进行接触，以同时对多组芯片进行测试，能够极大程度地提高测试效率，能够适应自动化生产线的需求。