激光芯片测试机的并行测试及数据处理优化装置

本发明涉及激光芯片测试机的并行测试及数据处理优化装置，包括多通道测试模块、智能温控模块、数据采集模块、数据处理优化模块以及中央控制模块。本发发明采用多通道并行测试架构，实现了多个激光芯片的同步测试，大幅提高了测试效率；结合改进Z‑score算法与卡尔曼滤波算法的data处理优化模块，有效提高了数据的准确性与稳定性，具备高精度的温度控制与参数测量能力，可满足激光芯片在10‑70℃不同温度变化下的多项参数测试需求，且系统自动化程度高，操作简便，适用于大规模生产测试场景，通过硬件与软件的协同设计，解决了传统测试设备测试效率低、数据处理能力弱等问题，显著提升了激光芯片测试的整体性能，具有突出的实质性特点与显著的进步。