一种HDI印刷电路板X射线检测方法及装置

本发明涉及检测技术领域，具体为一种HDI印刷电路板X射线检测方法及装置，方法包括：获取HDI电路板的空间参考系和初始位置数据，得到初始检测数据；根据初始检测数据对HDI电路板进行动态X射线扫描与数据采集，得到运动控制序列；根据运动控制序列驱动X射线源执行动态多轨迹运动和自适应倾斜角调整，得到同步控制序列；根据同步控制序列驱动探测器采集X射线信号，生成多维投影数据集；基于深度学习动态加权算法对多维投影数据集进行优化处理，得到综合检测图像；对综合检测图像进行多层结构特征提取，得到偏差分析报告。本申请有效克服了HDI电路板长宽方向厚度过大导致的穿透困难问题，避免了投影图像中多层结构特征的重叠和信号衰减。