基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备

本申请提供一种基于概率积分变换的关键PVT角评估方法、装置及设备。包括：对随机采样的N个设计样本进行仿真得到性能指标向量，构成原始数据集S；对每个PVT角的性能指标向量采用核密度估计方法进行建模，得到电路性能参数的概率密度函数以及累积分布函数；通过概率积分变换将性能指标向量映射为标准正态分布变量；基于映射后的数据构建多元高斯分布模型并得到新样本，将所述新样本与所述原始数据集S构成完整数据集，统计数据集中每个角作为最差PVT角的频次，按频次排序得到关键PVT角集合，其中频次最高的为第1个关键PVT角。本申请实施例可以简化仿真计算，显著降低计算成本，精准锁定对电路性能影响最大的PVT角，提升设计可靠性。