芯片仿真测试中的失效定位方法、装置及程序产品

本发明提供一种芯片仿真测试中的失效定位方法、装置及程序产品，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：获取对待测芯片进行仿真测试时失败的测试用例；提取测试用例的数据包序列，并从数据包序列中提取目标数据包序列段；基于目标数据包序列段对待测芯片进行仿真测试，并基于仿真测试结果对数据包序列进行缩减，得到缩减后的数据包序列；将缩减后的数据包序列作为新的数据包序列，跳转执行从数据包序列中提取目标数据包序列段的步骤，直到确定数据包序列中引发仿真测试失败的目标数据包。本发明能够在筛选仿真失效的数据包时，提升效率和精确度。