一种数字集成电路测试教具及测试方法

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种数字集成电路测试教具及测试方法，所述数字集成电路测试教具包括FPGA核心模块、ADC/DAC电路、下载器电路及开关矩阵，所述ADC/DAC电路、下载器电路及开关矩阵均与所述FPGA核心模块连接，所述下载器电路用于将仿真验证后的比特流文档下载到FPGA核心模块，所述开关矩阵用于将需要的测试资源切换连接到所述FPGA核心模块的相应引脚。本发明利用FPGA核心模块代替多种类型、功能的数字芯片，从而让用户能够在不需要更换硬件的情况下学习到更多的关于数字集成电路的测试方案，用户更可以通过FPGA开发软件中了解到该数字芯片功能的逻辑、时序等，更能让用户更好地理解其工作原理后进行相关的测试学习。