芯片老化程度的监测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请实施例公开一种芯片老化程度的监测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路可靠性技术领域，能够提高系统监测效率。所述方法包括：比较两个振荡器的输出频率，将频率较高的设置为参考振荡器，频率较低的设置为老化振荡器，一个振荡器比另一个振荡器的输出频率高；测量并存储所述参考振荡器和老化振荡器的初始频差参数；向所述老化振荡器输入测试激励，使所述老化振荡器工作于预设压力条件下，以模拟芯片在工作状态下的老化环境；在解除模拟老化环境且电路处于稳定状态后，测量所述参考振荡器和老化振荡器的当前频差参数，根据所述初始频差参数和当前频差参数，确定所述芯片的老化程度。本申请适用于芯片老化程度的监测场景中。