芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品。该方法包括：基于第一芯片的标准测试描述文件得到结构化描述数据，标准测试描述文件用于描述第一芯片的测试需求；将结构化描述数据注入环境模版得到验证环境，验证环境是用于承载芯片测试逻辑的程序，环境模版是预设的测试逻辑程序框架；基于验证环境驱动测试第一芯片，得到芯片测试结果，仅通过结构化描述数据的参数注入即可适配不同芯片的测试需求，能够实现全自动的芯片测试流程，提高芯片测试效率。