缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质

本发明公开一种缺陷检测优化方法、装置、计算机设备及存储介质，包括获取目标图像、目标掩膜图像以及包含多张样本图像的缺陷图像训练集，目标掩膜图像是基于目标语义分割模型对目标图像进行缺陷分割得到的图像；标注多张样本图像的缺陷轮廓及掩膜转换，得到初始掩膜图像；基于形态学操作对初始掩膜图像进行膨胀处理，得到膨胀掩膜图像；基于多张样本图像及初始掩膜图像和膨胀掩膜图像进行模型训练，得到分割优化模型；基于分割优化模型和目标图像优化目标掩膜图，并将一次优化掩膜图像与目标掩膜图像进行张量点乘处理，得到二次优化掩膜图像。本发明能够改善现有语义分割模型的分割结果并确保优化后的缺陷特征的面积不大于现有模型预测的面积。